2025 年 9 月 12 日，據天眼查 App 信息顯示，深圳市盛泰奇科技有限公司(以下簡稱 “盛泰奇科技”)申請的 “一種轉台角度位移量測量方法及位移傳感器” 專利正式進入公布階段。該項專利聚焦轉台角度位移量測量技術領域，由黃華林、陳林兩位發明人主導研發，通過創新技術路徑破解行業現存痛點，為高精度測量場景提供更優解決方案。
在轉台角度位移測量領域，傳統技術長期面臨三大核心問題：測量流程繁瑣，需依賴多環節人工幹預;系統搭建成本高，對硬件設備要求嚴苛;自動化程度低，難以适配高效生産與檢測需求。針對這些痛點，盛泰奇科技的新專利提出了以 “圖像處理 + 多阈值分析” 為核心的創新方案，通過四步關鍵流程實現精準測量：
設定特殊識别區域：精準定位轉台上的特征标記區域，為後續圖像分析建立明确基準;
圖像獲取與灰度化處理：采集轉台動态圖像并轉化為灰度圖，減少色彩幹擾，提升特征識别清晰度;
多阈值二值化圖生成：通過多組阈值篩選，生成高對比度二值化圖像，強化特征标記的輪廓辨識度;
參考點識别與夾角變化值計算：自動識别圖像中的參考點，通過計算夾角變化量反推轉台角度位移，實現自動化、高精度檢測。
據專利信息披露，該技術方案能顯著優化測量效果，不僅簡化了傳統流程、降低了系統成本，更大幅提升了自動化水平，可廣泛應用于精密制造、儀器儀表、航空航天等對轉台角度位移測量精度要求較高的領域。
值得關注的是，這并非盛泰奇科技在測量技術領域的首次突破。此前在 2025 年 4 月 22 日，公司申請的 “一種磁栅位移傳感器測量數據的有效性判定方法及系統” 專利已在 6 月 6 日公布，同樣由黃華林、陳林發明。該專利針對磁栅位移傳感器數據有效性判斷效率低、準确性不足的問題，提供了創新判定邏輯，進一步展現了公司在測量技術研發領域的持續深耕與技術儲備。
此次新專利的公布，不僅體現了盛泰奇科技的自主創新能力，也為行業技術升級提供了新思路，有望推動轉台角度位移測量領域向更高效、更精準、更低成本的方向發展。
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